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电子显微镜
电子显微镜常用的有透射电镜（transmissionelectronmicroscope，TEM）和扫描电子显微镜（scanningelectronmicroscope,SEM）。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。 定义 组成 详情>>
EVO系列钨灯丝扫描电子显微镜EVO18技术参数：EVO系列钨灯丝扫描电子显微镜EVO18标配能谱仪（EDS）和波谱仪（WDS）接口，领先的X射线几何条件对所有样品提供了最精确的分析。对于非导体采用电子束衬管技术也提高了图像质量和分析精度。可选择LaB6高亮度光源，在与X射线分析相适应的探针电流的性能上提高到一个新的水平。在8.5mm的分析工作距离，EVO®18能够处理的样品可达250m 详情>>
主要用途：Quanta200FEG场发射环境扫描电子显微镜综合场发射电镜高分辨和ESEM环境扫描电镜适合样品多样性的优势，可对各种各样的样品进行静态和动态观察和分析，在一定压力的水蒸气条件下进行各种物质的表面形貌分析和微区成分分析，避免样品在真空条件下发生失水而发生表面形貌的变化，特别对非导体物质可以不需要进行喷镀导电膜即可以进行表面形貌和微区成分分析，广泛应用于各种生物活体、含水物质、非导体材料 详情>>
主要用途：适用于金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子、复合材料和纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌进行观察（二次电子像、背散射电子像）；可进行微区的点、线、面成分分析；指定元素在形貌上成象；晶体材料的晶体取向及微区取向分析、结构分析、正反极图、欧拉空间分析等；图象定量分析(%)仪器类别：0304070201/仪器仪表/光学仪器/电子光学及离子光学仪器/扫描式电子显微镜指标信息：二次电子图像（S 详情>>
.可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向及成份分析。2.利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5nm尺度的物质进行结构和成分分析，因而特别实用于普通透射电镜难以分析的微细析出相，界面和畴等极小区域内成分、结构的研究。3.利用所配置的GIF系统不但可分析物质的组成元素而且可分析组成元素的价态。仪器类别：030407 详情>>
产品简介产品特点(1．世界上最高分辨率的扫描电子显微镜3．稳定的超高分辨率的显微技术。4．结合高分辨率的显微技术和操作的设计)产品简介冷场发射扫描电子显微镜m213451是专门为现今技术研究和发展设计的超高分辨率仪器。独特之处在于使用复合检测器允许同时显示二次电子和背散射电子成像。可以以三维立体形态观察各种物质的原子或分子结构，具有比一般扫描或电子显微镜更卓越的性能。HITACHIm213451在 详情>>
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电子显微镜照相Electronmicrography波长愈短，显微镜的放大能力愈大，故使用光线的数万分之一的电子束，能拍成最高200万---300万倍率照片的便是电子显微镜。电子显微镜有透射型（常用的数百倍至数十万倍）和扫描型（常用的是数十倍至数万倍）之别。顺便提一下，光学显微镜照相的最高倍率为1500倍左右。 详情>>
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analyticalelectronmicroscope；AEM是由透射电子显微镜、扫描电子显微镜和电子探针组合而成的多功能的新型仪器。其功能有：可获得透射电子图像、扫描透射电子图像、二次电子图像、背散射电子图像和X射线图像，可用X射线能谱和电子能谱进行微-微区成分分析，用多种衍射技术进行晶体结构分析、粒度分析和阴极发光观察等。在高分子材料科学中用于分析结晶材料中的缺陷和杂质。 详情>>
主要用途：1.样品不需喷C或Au，可在自然状态下观察图像和元素分析。2.可分析生物、非导电样品（背散射和二次电子像）3.可分析液体样品4.±20℃内的固液相变过程观察5.分析结果可拍照、视频打印和直接存盘（全数字化）仪器类别：0304070201/仪器仪表/光学仪器/电子光学及离子光学仪器/扫描式电子显微镜指标信息：分辨率3.5nm真空度20乇（可放水汽）环扫下可看二次电子像能谱分辨率130eV, 详情>>
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扫描式透射电子显微镜（scanningtransmissionelectronmicroscope）使用高亮度的冷电子光源，汇聚成极细的电子探针后对样品进行扫描，然后收集穿过样品的电子，同时在样品正方装有电子能量分析器。这种电镜既能观察较厚、不染色的生物样品，又可分析样品各部分的元素组成。这种电镜所需的真空度极高，电子技术相当复杂。 详情>>
基本信息内容简介目录基本信息作 者：付洪兰 编著出版社：高等教育出版社出版时间：2004-7-1版 次：1页 数：204字 数：360000印刷时间：2004-7-1开 本：纸 张：胶版纸印 次：ISBN：9787040145922包 装：平装内容简介本书共12章，内容包括四部分：第一部分介绍电子显微镜技术发展简史、透射电子显微镜样品包埋块制作、超薄切片、正染色、冷冻复型、冷冻固定与冷冻置换、负染 详情>>
基本信息内容简介(目录)基本信息出版社:第二军医大学出版社;第1版(2003年1月1日)丛书名:上海研究生教学用书平装:217页正文语种:简体中文开本:16ISBN:7810602675条形码:9787810602679ASIN:B00114EKO6内容简介《实用生物医学电子显微镜技术》内容：电子显微镜技术已成为科学研究领域内不可缺少的研究手段及工具，对科学研究起着重要作用。在生命科学研究领域，电 详情>>
原子力电子显微镜是在扫描隧道电子显微镜制造技术的基础上发展起来的。它是利用移动探针与原子间产生的相互作用力，将其在三维空间的分布状态转换成图像信息，从而得到物质表面原子及它们的排列状态。 详情>>
越高压电子显微镜ultra-highvoltageelect-ronmicroscope一般指电子线加速电压在200千伏以上的电子显微镜。现在是制作3000千伏的超高压电子显微镜。普通的电子显微镜可用于观察100纳米极薄的材料，而使用超高压电子显微镜就能进一步观察到更厚、更硬的材料。因为是超高压，所以可减少由电子线的非弹性散射对材料的损害，因而能观察到接近自然状态的材料。电压越高，电子线的波长就越 详情>>
实验室-简介实验室-领域实验室-成果实验室-简介中国科学院电子显微镜重点实验室现名：中国科学院物理研究所先进材料与结构分析部。先进材料与结构分析研究部在中国科学院北京电子显微镜重点实验室与物理所三个相关课题小组的基础上于1996年正式成立。实验室-领域实验室在深入开展电子显微学理论和实验方法研究的基础上，注重其在凝聚态物理学、材料科学及生命科学中的应用。在准晶，纳米材料和强关联材料研究中，曾取得重 详情>>
中心简介组织机构(中心领导小组中心管理委员会中心技术委员会中心人员)仪器设备管理模式(总体领导管理委员会技术委员会中心分部中心主任责任制资源共享人才培养运行机制)研究领域(纳米材料和纳米结构材料的显微结构与性能材料的电子显微学计算材料科学电子显微镜的附件的研制)开放服务(对外检测分析服务网络远程检测分析服务培训)中心简介北京电子显微镜中心是科技部、教育部、北京市科委于2006年12月在原清华大学电 详情>>
一、简介二、仪器类别三、技术参数四、应用范围一、简介场发射扫描电子显微镜（FESEM）该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。具有高性能x射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。二、仪器类别03040702/仪器仪表/光学仪器/电子光学及离子光学仪器。三、技术参数1、分辨率2、放大倍数3、 详情>>
主要用途：观测材料、矿物、生物样品、器件透射电子显微象及电子衍射图，对样品微观组织、结构、缺陷等定性、定量分析。可对样品在加热、拉伸、电子辐照等条件下微观组织的变化过程进行动态观测。仪器类别：03040701/仪器仪表/光学仪器/电子光学及离子光学仪器/透射式电子显微镜指标信息：加速电压：1000kV放大倍数：150倍～30万倍晶格分辨率：0.27nm选区衍射相机长：2～6m试样可加热温度：100 详情>>
电子显微镜常用的有透射电镜（transmissionelectronmicroscope，TEM）和扫描电子显微镜（scanningelectronmicroscope,SEM）。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。定义组成种类(概述透射电子显 详情>>
基本信息内容简介(目录)基本信息出版社:厦门大学出版社;第1版(2008年1月1日)平装:211页正文语种:简体中文ISBN:9787561531051,7561531052条形码:9787561531051产品尺寸及重量:25.8x18.2x1.2cm;440gASIN:B002BMP6XQ内容简介《电子显微镜技术与应用》的作者根据读者的需求和教学、科研及实验操作的需要，对原书内容作了适当调整、 详情>>
高压电子显微镜电压高压电子显微镜(high-voltageelectronmicroscopy，HVEM)同透射电子显微镜基本相同，只是电压特别高。电压TEM使用的加速电压是50～100kV，而HVEM使用的电压是200～1000kV。由于电压高，就会大大减少造成染色体畸变的可能，因此，可以用较厚的细胞切片研究细胞的结构，切片的厚度最大可达1μm，相当于普通TEM样品厚度的10倍。 详情>>
光学和电子显微镜样品制备opticalandelectronmicroscopy，preparationofspecimensfor将生物材料制成适于在显微镜下观察的薄片的技术。光学显微制片技术光学显微镜制片首先要尽量保持生物材料的天然状态，避免赝像、变形和失真，因此须将生物材料做固定处理；制片必须薄而透明，才能在光学显微镜下成像，除将材料切成薄片或通过轻压或其他手段使之分散外，还需采用其他方法使 详情>>
扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动（声子）、电子振荡（等离子体）。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和 详情>>
扫描电子显微镜样品制备技术（preparationofspecimensforscanningelectronmicroscopy）：扫描电子显微镜以观察样品的表面形态为主，因此扫描电子显微镜样品的制备，必须满足以下要求：①保持完好的组织和细胞形态；③充分暴露要观察的部位；③良好的导电性和较高的二次电子产额；④保持充分干燥的状态。概述化学方法制备样品(清洗固定干燥喷镀金属)冷冻方法制备样品(冷冻固 详情>>
扫描隧道电子显微镜(scanningtunnelingmicroscope，STM)是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器,利用电子在原子间的量子隧穿效应，将物质表面原子的排列状态转换为图像信息的。在量子隧穿效应中，原子间距离与隧穿电流关系相应。通过移动着的探针与物质表面的相互作用，表面与针尖间的隧穿电流反馈出表面某个原子间电子的跃迁，由此可以确定出物质表面的单一原子及它们的排列状态 详情>>
简介来源优点简介扫描透射电子显微镜(scanningtransmissionelectronmicroscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。象SEM一样，STEM用电子束在样品的表面扫描，但又象TEM，通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。来源扫描 详情>>
台式扫描电镜（台式SEM）简介台式扫描电镜（台式SEM）设计背景台式扫描电镜（台式SEM）组成台式扫描电镜（台式SEM）特点台式扫描电镜（台式SEM）应用领域台式扫描电镜（台式SEM）简介台式扫描电子显微镜（DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM）的概念是美国FEI公司（1997年原FEI和飞利浦电子光学合并而成)在2004年提出的，并与2006年 详情>>
在光学显微镜下无法看清小于0.2µm的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。简介结构原理操作步骤照明系统 详情>>
EVO 系列 钨灯 扫描 电子显微镜 电子 子显 显微 微镜 EVO 18 EVO
主要用途：Quanta200FEG场发射环境扫描电子显微镜综合场发射电镜高分辨和ESEM环境扫描电镜适合样品多样性的优势，可对各种各样的样品进行静态和动态观察和分析，在一定压力的水蒸气条件下进行各种物质的表面形貌分析和微区成分分析，避免样品在真空条件下发生失水而发生表面形貌的变化，特别对非导体物质可以不需要进行喷镀导电膜即可以进行表面形貌和微区成分分析，广泛应用于各种生物活体、含水物质、非导体材料 详情>>
主要用途：适用于金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子、复合材料和纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌进行观察（二次电子像、背散射电子像）；可进行微区的点、线、面成分分析；指定元素在形貌上成象；晶体材料的晶体取向及微区取向分析、结构分析、正反极图、欧拉空间分析等；图象定量分析(%)仪器类别：0304070201/仪器仪表/光学仪器/电子光学及离子光学仪器/扫描式电子显微镜指标信息：二次电子图像（S 详情>>
.可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向及成份分析。2.利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5nm尺度的物质进行结构和成分分析，因而特别实用于普通透射电镜难以分析的微细析出相，界面和畴等极小区域内成分、结构的研究。3.利用所配置的GIF系统不但可分析物质的组成元素而且可分析组成元素的价态。仪器类别：030407 详情>>
产品简介产品特点(1．世界上最高分辨率的扫描电子显微镜3．稳定的超高分辨率的显微技术。4．结合高分辨率的显微技术和操作的设计)产品简介冷场发射扫描电子显微镜m213451是专门为现今技术研究和发展设计的超高分辨率仪器。独特之处在于使用复合检测器允许同时显示二次电子和背散射电子成像。可以以三维立体形态观察各种物质的原子或分子结构，具有比一般扫描或电子显微镜更卓越的性能。HITACHIm213451在 详情>>
超高 分辨率 分辨 辨率 扫描 电子显微镜 电子 子显 显微 微镜
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电子显微镜照相Electronmicrography波长愈短，显微镜的放大能力愈大，故使用光线的数万分之一的电子束，能拍成最高200万---300万倍率照片的便是电子显微镜。电子显微镜有透射型（常用的数百倍至数十万倍）和扫描型（常用的是数十倍至数万倍）之别。顺便提一下，光学显微镜照相的最高倍率为1500倍左右。 详情>>
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analyticalelectronmicroscope；AEM是由透射电子显微镜、扫描电子显微镜和电子探针组合而成的多功能的新型仪器。其功能有：可获得透射电子图像、扫描透射电子图像、二次电子图像、背散射电子图像和X射线图像，可用X射线能谱和电子能谱进行微-微区成分分析，用多种衍射技术进行晶体结构分析、粒度分析和阴极发光观察等。在高分子材料科学中用于分析结晶材料中的缺陷和杂质。 详情>>
主要用途：1.样品不需喷C或Au，可在自然状态下观察图像和元素分析。2.可分析生物、非导电样品（背散射和二次电子像）3.可分析液体样品4.±20℃内的固液相变过程观察5.分析结果可拍照、视频打印和直接存盘（全数字化）仪器类别：0304070201/仪器仪表/光学仪器/电子光学及离子光学仪器/扫描式电子显微镜指标信息：分辨率3.5nm真空度20乇（可放水汽）环扫下可看二次电子像能谱分辨率130eV, 详情>>
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扫描式透射电子显微镜（scanningtransmissionelectronmicroscope）使用高亮度的冷电子光源，汇聚成极细的电子探针后对样品进行扫描，然后收集穿过样品的电子，同时在样品正方装有电子能量分析器。这种电镜既能观察较厚、不染色的生物样品，又可分析样品各部分的元素组成。这种电镜所需的真空度极高，电子技术相当复杂。 详情>>
基本信息内容简介目录基本信息作 者：付洪兰 编著出版社：高等教育出版社出版时间：2004-7-1版 次：1页 数：204字 数：360000印刷时间：2004-7-1开 本：纸 张：胶版纸印 次：ISBN：9787040145922包 装：平装内容简介本书共12章，内容包括四部分：第一部分介绍电子显微镜技术发展简史、透射电子显微镜样品包埋块制作、超薄切片、正染色、冷冻复型、冷冻固定与冷冻置换、负染 详情>>
基本信息内容简介(目录)基本信息出版社:第二军医大学出版社;第1版(2003年1月1日)丛书名:上海研究生教学用书平装:217页正文语种:简体中文开本:16ISBN:7810602675条形码:9787810602679ASIN:B00114EKO6内容简介《实用生物医学电子显微镜技术》内容：电子显微镜技术已成为科学研究领域内不可缺少的研究手段及工具，对科学研究起着重要作用。在生命科学研究领域，电 详情>>
原子力电子显微镜是在扫描隧道电子显微镜制造技术的基础上发展起来的。它是利用移动探针与原子间产生的相互作用力，将其在三维空间的分布状态转换成图像信息，从而得到物质表面原子及它们的排列状态。 详情>>
越高压电子显微镜ultra-highvoltageelect-ronmicroscope一般指电子线加速电压在200千伏以上的电子显微镜。现在是制作3000千伏的超高压电子显微镜。普通的电子显微镜可用于观察100纳米极薄的材料，而使用超高压电子显微镜就能进一步观察到更厚、更硬的材料。因为是超高压，所以可减少由电子线的非弹性散射对材料的损害，因而能观察到接近自然状态的材料。电压越高，电子线的波长就越 详情>>
实验室-简介实验室-领域实验室-成果实验室-简介中国科学院电子显微镜重点实验室现名：中国科学院物理研究所先进材料与结构分析部。先进材料与结构分析研究部在中国科学院北京电子显微镜重点实验室与物理所三个相关课题小组的基础上于1996年正式成立。实验室-领域实验室在深入开展电子显微学理论和实验方法研究的基础上，注重其在凝聚态物理学、材料科学及生命科学中的应用。在准晶，纳米材料和强关联材料研究中，曾取得重 详情>>
中国科学院 中国 国科 科学 学院 电子显微镜 电子 子显 显微 微镜 重点 实验室 实验 验室
中心简介组织机构(中心领导小组中心管理委员会中心技术委员会中心人员)仪器设备管理模式(总体领导管理委员会技术委员会中心分部中心主任责任制资源共享人才培养运行机制)研究领域(纳米材料和纳米结构材料的显微结构与性能材料的电子显微学计算材料科学电子显微镜的附件的研制)开放服务(对外检测分析服务网络远程检测分析服务培训)中心简介北京电子显微镜中心是科技部、教育部、北京市科委于2006年12月在原清华大学电 详情>>
一、简介二、仪器类别三、技术参数四、应用范围一、简介场发射扫描电子显微镜（FESEM）该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。具有高性能x射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。二、仪器类别03040702/仪器仪表/光学仪器/电子光学及离子光学仪器。三、技术参数1、分辨率2、放大倍数3、 详情>>
主要用途：观测材料、矿物、生物样品、器件透射电子显微象及电子衍射图，对样品微观组织、结构、缺陷等定性、定量分析。可对样品在加热、拉伸、电子辐照等条件下微观组织的变化过程进行动态观测。仪器类别：03040701/仪器仪表/光学仪器/电子光学及离子光学仪器/透射式电子显微镜指标信息：加速电压：1000kV放大倍数：150倍～30万倍晶格分辨率：0.27nm选区衍射相机长：2～6m试样可加热温度：100 详情>>
电子显微镜常用的有透射电镜（transmissionelectronmicroscope，TEM）和扫描电子显微镜（scanningelectronmicroscope,SEM）。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。定义组成种类(概述透射电子显 详情>>
基本信息内容简介(目录)基本信息出版社:厦门大学出版社;第1版(2008年1月1日)平装:211页正文语种:简体中文ISBN:9787561531051,7561531052条形码:9787561531051产品尺寸及重量:25.8x18.2x1.2cm;440gASIN:B002BMP6XQ内容简介《电子显微镜技术与应用》的作者根据读者的需求和教学、科研及实验操作的需要，对原书内容作了适当调整、 详情>>
高压电子显微镜电压高压电子显微镜(high-voltageelectronmicroscopy，HVEM)同透射电子显微镜基本相同，只是电压特别高。电压TEM使用的加速电压是50～100kV，而HVEM使用的电压是200～1000kV。由于电压高，就会大大减少造成染色体畸变的可能，因此，可以用较厚的细胞切片研究细胞的结构，切片的厚度最大可达1μm，相当于普通TEM样品厚度的10倍。 详情>>
光学和电子显微镜样品制备opticalandelectronmicroscopy，preparationofspecimensfor将生物材料制成适于在显微镜下观察的薄片的技术。光学显微制片技术光学显微镜制片首先要尽量保持生物材料的天然状态，避免赝像、变形和失真，因此须将生物材料做固定处理；制片必须薄而透明，才能在光学显微镜下成像，除将材料切成薄片或通过轻压或其他手段使之分散外，还需采用其他方法使 详情>>
扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动（声子）、电子振荡（等离子体）。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和 详情>>
扫描电子显微镜样品制备技术（preparationofspecimensforscanningelectronmicroscopy）：扫描电子显微镜以观察样品的表面形态为主，因此扫描电子显微镜样品的制备，必须满足以下要求：①保持完好的组织和细胞形态；③充分暴露要观察的部位；③良好的导电性和较高的二次电子产额；④保持充分干燥的状态。概述化学方法制备样品(清洗固定干燥喷镀金属)冷冻方法制备样品(冷冻固 详情>>
扫描隧道电子显微镜(scanningtunnelingmicroscope，STM)是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器,利用电子在原子间的量子隧穿效应，将物质表面原子的排列状态转换为图像信息的。在量子隧穿效应中，原子间距离与隧穿电流关系相应。通过移动着的探针与物质表面的相互作用，表面与针尖间的隧穿电流反馈出表面某个原子间电子的跃迁，由此可以确定出物质表面的单一原子及它们的排列状态 详情>>
简介来源优点简介扫描透射电子显微镜(scanningtransmissionelectronmicroscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。象SEM一样，STEM用电子束在样品的表面扫描，但又象TEM，通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。来源扫描 详情>>
台式扫描电镜（台式SEM）简介台式扫描电镜（台式SEM）设计背景台式扫描电镜（台式SEM）组成台式扫描电镜（台式SEM）特点台式扫描电镜（台式SEM）应用领域台式扫描电镜（台式SEM）简介台式扫描电子显微镜（DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM）的概念是美国FEI公司（1997年原FEI和飞利浦电子光学合并而成)在2004年提出的，并与2006年 详情>>
在光学显微镜下无法看清小于0.2µm的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。简介结构原理操作步骤照明系统 详情>>
