“衬度”查询结果_在线百科全书查询
衬度
1.定义： 成像衬度是光学显微镜的另一个关键问题，所谓衬度，即是像面上相邻部份间的黑白对比度或颜色差，人眼对于0.02 mm以下的亮度差别是很难判定的，对颜色差别则稍微敏感一些。有些显微镜观察对象，如生物标本，其细节间亮度差别甚小，加之显微镜光学系统设计制造误差使其成像衬度进一步降低而难于分辨，此时，看不清物体细节，不是总放大倍率过低，也不是物镜数值孔径太小，而是由于像面衬度太低的缘故。 2、 详情>>
1895年，德国著名物理学家伦琴(1854～1923)发现X射线。三天后，伦琴的夫人偶然看到了手的X射线影像，从此开创了一门新的科学－X射线摄影术，该技术随后在医学诊断领域得到广泛的应用。利用X射线，人们第一次实现了对人体内部的无损伤成像。虽然最初形成的影像并不是很清楚，但是科学家敏锐地预见到X射线影像潜在的巨大应用前景。随着X光源和探测技术不断完善，所获得的图像越来越清楚。然而这种图像还只是样品 详情>>
在扫描电子显微镜中，如果被观察表面不同微区的电位不同，能量较低的二次电子会从电位低的地方跑到邻近电位高的地方，使该处检测器收集到的二次电子减少，得到因电位差异而表现出衬度的二次电子像。在样品架上装一个可用于检测集成块的特殊样品台，就可观察在外加电压下集成块各条通路是否有故障。 详情>>
电压衬度电压衬度是SEM中由于试样表面电位差别而形成的衬度。利用对试样表面电位状态敏感的信号，如二次电子，作为显像管的调制信号，可得到电压衬度像。 详情>>
在扫描电子显微镜中：聚焦电子束在晶体样品表面扫描时，入射角θ连续变化，在θ角小于某组晶面的布拉格角θB的区域，入射电子受晶体原子的散射机会较多，如在样品上方安装电子检测器，可接收到较强的背散射电子信号。而在θ>θB的区域，入射电子受晶体原子散射的机会较少。电子经过晶格间的通道深入到晶体内部才发生散射，使样品上方检测到的背散射电子信号较弱，尤其对于大的变形小、结构完善的单晶样品，可获得表层10 详情>>
anomalycontrast称衬值(contrastvalue)。异常内元素平均含量与背景值之比。是异常清晰度的量度，所以也叫异常清晰度。指示元素因在不同区域内背景平均值存在着明显的差异，各个区域的样品在分析方法上存在着系统的偏倚。所以，不能直接依据样品的分析结果来对比不同区域内某一指示元素的异常强度。而异常衬度可以消除以上两方面的影响，显示异常相对于背景的起伏变化状态。 详情>>
学科：地球化学勘查词目：原始衬度英文：primarycontrast释文：原始衬度是某一矿床中原生矿石的金属平均含量与围岩中此种金属的背景平均值或异常下限之比。 详情>>
原子序数衬度(AtomicNumber/CompositionContrast)是SEM/TEM中由于试样表面物质原子序数（或化学成分）差别而形成的衬度。利用对试样表面原子序数（或化学成分）变化敏感的物理信号作为显像管的调制信号，可以得到原子序数衬度图像。背散射电子像、吸收电子像的衬度，都包含有原子序数衬度，而特征X射线像的衬度是原子序数衬度。 详情>>
样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同德区域，这一现象称为质厚衬度效应（质量厚度衬度效应）。 详情>>
1.定义：成像衬度是光学显微镜的另一个关键问题，所谓衬度，即是像面上相邻部份间的黑白对比度或颜色差，人眼对于0.02mm以下的亮度差别是很难判定的，对颜色差别则稍微敏感一些。有些显微镜观察对象，如生物标本，其细节间亮度差别甚小，加之显微镜光学系统设计制造误差使其成像衬度进一步降低而难于分辨，此时，看不清物体细节，不是总放大倍率过低，也不是物镜数值孔径太小，而是由于像面衬度太低的缘故。2、衬度类型： 详情>>
相位衬度phasecontrast电子束传播过非常薄的试样，试样中原子核和核外电子产生的库伦场会使电子波的相位有起伏，如果能把这个相位变化转变为象衬度，则称为相位衬度。如果所用试样厚度小于l00nm，甚至30nm,它是让多束衍射光束穿过物镜光阑彼此相干成象，象的可分辨细节取决于入射波被试样散射引起的相位变化和物镜球差、散焦引起的附加相位差的选择。它追求的是试样小原子及其排列状态的直接显示。图所示是 详情>>
形貌衬度(TopographicContrast)是在SEM中，由于试样表面形貌差异而形成的衬度。利用对试样表面形貌变化敏感的物理信号如二次电子、背散射电子等作为显像管的调制信号，可以得到形貌衬度像。其强度是试样表面倾角的函数。而试样表面微区形貌差别实际上就是各微区表面相对于入射束的倾角不同，因此电子束在试样上扫描时任何二点的形貌差别，表现为信号强度的差别，从而在图像中形成显示形貌的衬度。二次电子 详情>>
衍射衬度diffractioncontrast晶体试样在进行TEM电镜观察时，由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度，称为衍射衬度。这种衬度对晶体结构和取向十分敏感，当试样中某处含有晶体缺陷时，意味着该处相对于周围完整晶体发生了微小的取向变化，导致了缺陷处和周围完整晶体具 详情>>
原子序数衬度像(Z-contrast)技术一种采用高角环形检测器收集扫描透射电子显微镜(STEM)的衍射模式下的高角度漫散射电子成像的技术。使用原子序数衬度像(Z-contrast)技术的扫描透射电子显微镜可以达到原子级别的分辨率，是当今最新的可达到最高分辨率的电子显微镜Z-contrastSTEM采用的主要技术。目录1首次使用2技术特点3应用4参考文献5参考网站首次使用这种技术由美国橡树岭国家实 详情>>
质厚衬度massthicknesscontrast非晶样品透射电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，即质量厚度衬度（质量厚度定义为试样上表面单位面积以下柱体中的质量），也叫质厚衬度。质厚衬度适用于对复型膜试样电子图象作出解释。质量厚度数值较大的，对电子的吸收散射作用强，使电子散射到光栏以外的要多，对应较暗的衬度。质量厚度数值小的，对应较亮的衬度。其本质上是一种散射 详情>>
在扫描电子显微镜中，如果被观察表面不同微区的电位不同，能量较低的二次电子会从电位低的地方跑到邻近电位高的地方，使该处检测器收集到的二次电子减少，得到因电位差异而表现出衬度的二次电子像。在样品架上装一个可用于检测集成块的特殊样品台，就可观察在外加电压下集成块各条通路是否有故障。 详情>>
电压衬度电压衬度是SEM中由于试样表面电位差别而形成的衬度。利用对试样表面电位状态敏感的信号，如二次电子，作为显像管的调制信号，可得到电压衬度像。 详情>>
在扫描电子显微镜中：聚焦电子束在晶体样品表面扫描时，入射角θ连续变化，在θ角小于某组晶面的布拉格角θB的区域，入射电子受晶体原子的散射机会较多，如在样品上方安装电子检测器，可接收到较强的背散射电子信号。而在θ>θB的区域，入射电子受晶体原子散射的机会较少。电子经过晶格间的通道深入到晶体内部才发生散射，使样品上方检测到的背散射电子信号较弱，尤其对于大的变形小、结构完善的单晶样品，可获得表层10 详情>>
anomalycontrast称衬值(contrastvalue)。异常内元素平均含量与背景值之比。是异常清晰度的量度，所以也叫异常清晰度。指示元素因在不同区域内背景平均值存在着明显的差异，各个区域的样品在分析方法上存在着系统的偏倚。所以，不能直接依据样品的分析结果来对比不同区域内某一指示元素的异常强度。而异常衬度可以消除以上两方面的影响，显示异常相对于背景的起伏变化状态。 详情>>
学科：地球化学勘查词目：原始衬度英文：primarycontrast释文：原始衬度是某一矿床中原生矿石的金属平均含量与围岩中此种金属的背景平均值或异常下限之比。 详情>>
原子序数衬度(AtomicNumber/CompositionContrast)是SEM/TEM中由于试样表面物质原子序数（或化学成分）差别而形成的衬度。利用对试样表面原子序数（或化学成分）变化敏感的物理信号作为显像管的调制信号，可以得到原子序数衬度图像。背散射电子像、吸收电子像的衬度，都包含有原子序数衬度，而特征X射线像的衬度是原子序数衬度。 详情>>
样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同德区域，这一现象称为质厚衬度效应（质量厚度衬度效应）。 详情>>
1.定义：成像衬度是光学显微镜的另一个关键问题，所谓衬度，即是像面上相邻部份间的黑白对比度或颜色差，人眼对于0.02mm以下的亮度差别是很难判定的，对颜色差别则稍微敏感一些。有些显微镜观察对象，如生物标本，其细节间亮度差别甚小，加之显微镜光学系统设计制造误差使其成像衬度进一步降低而难于分辨，此时，看不清物体细节，不是总放大倍率过低，也不是物镜数值孔径太小，而是由于像面衬度太低的缘故。2、衬度类型： 详情>>
相位衬度phasecontrast电子束传播过非常薄的试样，试样中原子核和核外电子产生的库伦场会使电子波的相位有起伏，如果能把这个相位变化转变为象衬度，则称为相位衬度。如果所用试样厚度小于l00nm，甚至30nm,它是让多束衍射光束穿过物镜光阑彼此相干成象，象的可分辨细节取决于入射波被试样散射引起的相位变化和物镜球差、散焦引起的附加相位差的选择。它追求的是试样小原子及其排列状态的直接显示。图所示是 详情>>
形貌衬度(TopographicContrast)是在SEM中，由于试样表面形貌差异而形成的衬度。利用对试样表面形貌变化敏感的物理信号如二次电子、背散射电子等作为显像管的调制信号，可以得到形貌衬度像。其强度是试样表面倾角的函数。而试样表面微区形貌差别实际上就是各微区表面相对于入射束的倾角不同，因此电子束在试样上扫描时任何二点的形貌差别，表现为信号强度的差别，从而在图像中形成显示形貌的衬度。二次电子 详情>>
衍射衬度diffractioncontrast晶体试样在进行TEM电镜观察时，由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度，称为衍射衬度。这种衬度对晶体结构和取向十分敏感，当试样中某处含有晶体缺陷时，意味着该处相对于周围完整晶体发生了微小的取向变化，导致了缺陷处和周围完整晶体具 详情>>
原子序数衬度像(Z-contrast)技术一种采用高角环形检测器收集扫描透射电子显微镜(STEM)的衍射模式下的高角度漫散射电子成像的技术。使用原子序数衬度像(Z-contrast)技术的扫描透射电子显微镜可以达到原子级别的分辨率，是当今最新的可达到最高分辨率的电子显微镜Z-contrastSTEM采用的主要技术。目录1首次使用2技术特点3应用4参考文献5参考网站首次使用这种技术由美国橡树岭国家实 详情>>
质厚衬度massthicknesscontrast非晶样品透射电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，即质量厚度衬度（质量厚度定义为试样上表面单位面积以下柱体中的质量），也叫质厚衬度。质厚衬度适用于对复型膜试样电子图象作出解释。质量厚度数值较大的，对电子的吸收散射作用强，使电子散射到光栏以外的要多，对应较暗的衬度。质量厚度数值小的，对应较亮的衬度。其本质上是一种散射 详情>>
