透光率/反射率测定仪_在线百科全书查询
透光率/反射率测定仪
用途
用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
测量范围
棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数
类别 I型 II型 III型
探测器 Sony ILX511 x线形CCD 阵列 Sony ILX511 x线形CCD 阵列 Hamamatsu S7031背照式2D-CCD
检测范围 380-1000nm 380-1100nm 360-1100nm
波长分辨率 <1.35nm <1.35nm <1.35nm
信噪比（全信号） 250：1 250：1 1000：1
相对检测误差 <0.6%(400-800nm) <0.6%(400-800nm) <0.2%(400-800nm)
操作方式 手动 电动 电动
角度分辨率 0.1 º <0.0002º <0.0002º
重复定位精度： - <0.005 º <0.005 º
旋转最大速度： - 25 º/s 25 º/s
透射/反射测量角 >8º ， <80 º,可扩展到5º
单次测量时间 <100ms
S/P光测量 可以
样品尺寸 >5mm
操作系统/接口 Windows XP Vista /USB2.0
产品尺寸 1020mm*485mm*300mm
功率/电源： 100W/220V-50HZ
其他 可自定义打印报表格式，开放式光学材料光坯反射率数据库
