混合信号集成电路测试与测量_在线百科全书查询
混合信号集成电路测试与测量
图书信息
书 名: 混合信号集成电路测试与测量
作 者：(美国)MarkBurns
出版社： 电子工业出版社
出版时间： 2009年03月
ISBN: 9787121082931
开本： 16开
定价: 69.00 元
内容简介
《混合信号集成电路测试与测量》详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法，是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。《混合信号集成电路测试与测量》共为16章，内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精确性、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DtT)、数据分析和测试经济学。
《混合信号集成电路测试与测量》是面向电子工程的高年级本科生和研究生编写的，也可作为测试工程师的参考用书。《混合信号集成电路测试与测量》要求读者具有模拟和数字电路、计算机编程、线性连续时间和离散时间系统、基本概率和统计概念、数字信号处理等基础知识。
作者简介
Mark Burns是美国德州仪器半导体公司(TI)的会士，混合信号IC测试和测量领域的著名专家。Burns由刊资助花费三年时间撰写此书，作为他的工作职责的一部分。
图书目录
第1章 混合信号测试概况.
第2章 测试规范
第3章 直流和参数测试
第4章 测量精度
第5章 测试仪硬件
第6章 采样理论
第7章 基于DSP的测试
第8章 模拟通道测试
第9章 采样通道测试
第10章 聚焦校准
第11章 DAC测试
第12章 ADC测试
第13章 DIB设计
第14章 可测试性设计
第15章 数据分析
第16章 测试经济学
参考文献
部分习题答案
术语表
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