电子元器件可靠性设计_在线百科全书查询
电子元器件可靠性设计
图书信息
书 名: 电子元器件可靠性设计
作 者：王蕴辉 孙再吉
出版社： 科学出版社
出版时间： 2007年09月
ISBN: 9787030196385
开本： 16开
定价: 49.90 元
内容简介
为使我国电子元器件可靠性技术的研究和应用迈向一个新台阶，促进元器件固有可靠性水平的提高，我们组织国内重点元器件研制生产单位长期从事元器件设计的专家，在总结多年可靠性工作经验的基础上，密切结合我国元器件的实际情况，编写此书，呈现给读者。
本书共分9章，内容涉及电子元器件可靠性设计的一般要求；单片集成电路可靠性设计；混合集成电路可靠性设计与控制；半导体分立器件可靠性设计；连接器可靠性设计；继电器可靠性设计；电容器可靠性设计；微特电机可靠性设计；声表面波器件可靠性设计等。本书内容全面，翔实，涵盖电子元器件可靠性设计和控制所必需的基本技术与方法。另外，对各类元器件均给出了应用实例。
本书既可作为电子元器件研制、生产单位的培训教材，也可作为高等院校研究生、本科生的参考教材，同时也可供广大工程技术人员参考。
图书目录
第1章 电子元器件可靠性设计的一般要求
第2章单片集成电路可靠性设计
第3章 混合集成电路可靠性设计与控制
第4章 半导体分立器件可靠性设计
第5章 连接器可靠性设计
第6章 继电器可靠性设计
第7章 电容器可靠性设计
第8章 微特电机可靠性设计
第9章 声表面波器件可靠性设计
后记
