材料X射线衍射与电子显微分析：材料分析测试技术_在线百科全书查询
材料X射线衍射与电子显微分析：材料分析测试技术
图书信息
作 者：周玉，武高辉 著 丛 书 名：出 版 社：哈尔滨工业大学出版社ISBN：9787560313382 出版时间：2007-08-01 版 次：1 页 数：283 装帧：平装 开 本：所属分类：图书 > 科技 > 一般工业技术
内容简介
《材料分析测试技术》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时，简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法，并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
